تستر تغییر شکل سیمپیچ ترانسفورماتور با اندازهگیری پارامترهای مشخصه سیمپیچها با استفاده از روش تحلیل پاسخ فرکانسی (FRA)، تشخیص دقیقی از عیوب داخلی ترانسفورماتور انجام میدهد. این دستگاه تغییر شکل داخلی سیمپیچ ناشی از ضربه جریان اتصال کوتاه یا در حین حمل و نقل را بدون نیاز به باز کردن درپوش یا جداسازی ترانسفورماتور تشخیص میدهد. XHBX1501S برای تشخیص عیوب ساختار داخلی ترانسفورماتورهای قدرت 63 کیلوولت تا 500 کیلوولت کاربرد دارد و از اندازهگیری همزمان سه فاز پشتیبانی میکند که زمان تست میدانی را به طور قابل توجهی کاهش میدهد.
| حالت اسکن | خطی: 10 هرتز تا 10 مگاهرتز (40000 نقطه) اسکن فرکانس قطعهای |
| رزولوشن فرکانس | 0.25 کیلوهرتز، 0.5 کیلوهرتز، 1 کیلوهرتز |
| محدوده اندازهگیری دامنه | -120 دسیبل تا +20 دسیبل |
| دقت اندازهگیری دامنه | 0.1 دسیبل |
| دقت فرکانس اسکن | 0.005% |
| امپدانس ورودی سیگنال | 1 مگا اهم |
| امپدانس خروجی سیگنال | 50 اهم |
| دامنه خروجی سیگنال | ±20 ولت |
| نرخ تکرار تست | 99.9% |
| ابعاد (طول × عرض × ارتفاع) | 370 × 300 × 170 میلیمتر |
| وزن کلی | 13 کیلوگرم |
| دمای عملیاتی | -10 درجه سانتیگراد تا +40 درجه سانتیگراد |
| دمای ذخیرهسازی | -20 درجه سانتیگراد تا +70 درجه سانتیگراد |
| رطوبت نسبی | <90%، بدون میعان |
XHBX1501S برای تیمهایی که باید یکپارچگی سیمپیچ ترانسفورماتور را تأیید کرده و تغییر شکل را تشخیص دهند، طراحی شده است و برای گردش کارهای تست سه فاز و ولتاژ بالا که کیتهای SFRA تک فاز نمیتوانند به طور مؤثر پوشش دهند، مناسب است:
![]()